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Polysilizium-Heaterstrukturen Für Den Einsatz in Hochbeschleunigten Zuverlässigkeitstests Auf Waferebene
Polysilizium-Heaterstrukturen Für Den Einsatz in Hochbeschleunigten Zuverlässigkeitstests Auf Waferebene
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Author(s): Weinberger, David
ISBN No.: 9783656276708
Pages: 78
Year: 201308
Format: Trade Paper
Price: $ 81.90
Dispatch delay: Dispatched between 7 to 15 days
Status: Available

Bachelorarbeit aus dem Jahr 2011 im Fachbereich Elektrotechnik, Note: 1, Hochschule Mittweida (FH) (Elektro- und Informationstechnik), Sprache: Deutsch, Abstract: Diese Bachelorarbeit soll die Grundlage fur hochbeschleunigte Zuverlassigkeitstests auf Waferebene unter Verwendung von In-Situ-Heizelementen aus polykristallinem Silizium bilden. Nach einer Einfuhrung in die Zuverlassigkeitstheorie wird eine Auswahl an Zuverlassigkeitstest vorgestellt. Diese sind momentan, durch den Einsatz von Hot-Chuck's, noch recht zeitaufwandig und verlangen daher nach einer alternativen Warmequelle. Der in dieser Arbeit vorgestellte Ausweg beschreibt einen Polysilizium-Widerstand direkt in der zu beheizenden Struktur. Weiterhin wird die Warmeausbreitung durch thermische Simulationen dargestellt. Am Ende dieser Arbeit wird noch die mogliche Temperaturmessung an solchen Teststrukturen vorgestellt.


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